光电成像探测系统的性能预测方法

• 作者: 史泽林 徐保树
• 来源期刊: 计算机工程
• 学科: 工学
• 关键词: 光电系统 成像探测 性能预测 假设检验
• 年，卷（期）: 2012,（3）
• 所属期刊栏目: 博士论文
• 页码范围: 7-8
• 分类号: TP301.6
• 字数: 2974字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-3428.2012.03.003

摘要

提出一种光电成像探测系统的性能预测方法.介绍包含传感器、处理器的探测系统模型.根据信号检测理论,以最小错误概率准则设计似然比探测器,利用中心极限定理计算错误率.实验结果表明,随着量化位数的增大,系统错误率逐渐减少,且计算错误率与仿真错误率趋于一致.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	史泽林		81	1110	18.0	29.0
7	徐保树		6	8	2.0	2.0