基于覆盖率的微处理器运算单元验证技术

• 作者: 李智广 王玉艳 章建雄
• 来源期刊: 计算机工程
• 学科: 工学
• 关键词: 功能验证 运算单元 约束求解 随机生成 覆盖率 SystemVerilog语言
• 年，卷（期）: 2012,（13）
• 所属期刊栏目: 工程应用技术与实现
• 页码范围: 221-223
• 分类号: TP391
• 字数: 3200字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-3428.2012.13.066

摘要

根据微处理器运算单元功能较多的特点,基于覆盖率的验证方法,设计一种自检查的测试程序生成器(SATG)验证方法.SATG采用一种“闭环”结构,并以功能覆盖率量化分析为核心,使用随机生成和约束求解的方法,自动生成验证程序.实验结果表明,该方法在微处理器运算单元的验证中,能提高验证效率和覆盖率,增强验证平台的可重用性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	章建雄	中国电子科技集团公司第三十二研究所	7	25	3.0	4.0
2	李智广	中国电子科技集团公司第三十二研究所	1	1	1.0	1.0
3	王玉艳	中国电子科技集团公司第三十二研究所	2	2	1.0	1.0