Ar（＋17）和Ar（＋16）谱线的电子碰撞展宽

• 作者: 吴泽清 李月明 段斌 王建国 颜君
• 来源期刊: 物理学报
• 学科: 物理学
• 关键词: 反应矩阵 碰撞强度 碰撞展宽
• 年，卷（期）: 2012,（4）
• 所属期刊栏目: 原子和分子物理学
• 页码范围: 133-137
• 分类号: O536
• 语种: 中文

摘要

利用修改后伦敦理工大学的UCL扭曲波程序,本文计算了自由电子与原子或离子的碰撞反应矩阵,以此得到它的散射矩阵和碰撞强度.利用碰撞强度,研究电子碰撞对辐射谱线影响.具体地,以Ar~（＋17）和Ar~（＋16）的α线和β线为例,计算了不同电子温度和密度下谱线的展宽和位移.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	颜君		33	56	4.0	4.0
2	王建国		44	49	4.0	4.0
3	吴泽清		12	12	2.0	3.0
4	李月明		10	29	3.0	5.0
5	段斌		9	25	3.0	4.0