基于红外成像的瓷支柱绝缘子发热规律研究

• 作者: 张文静 律方成 汪佛池 闫康 马建桥
• 来源期刊: 电工技术学报
• 学科: 工学
• 关键词: 瓷支柱绝缘子 微裂纹 红外热像 泄漏电流 发热规律
• 年，卷（期）: 2013,（12）
• 所属期刊栏目: 高电压
• 页码范围: 130-135
• 页数: 6页
• 分类号: TM855
• 字数: 4638字
• 语种: 中文

摘要

为分析瓷支柱绝缘子异常发热的主导诱因,在实验室内,对局部发热明显的试品在未经处理、干燥与浸泡处理等三种不同状态下分别施加20kV工频电压,记录不同时长下的红外热像分布图和泄漏电流.研究表明:该试品发热的主要原因为水分子通过裂纹侵入瓷体,在电场作用下产生转向极化所致.在未经处理、浸泡处理后,试品异常发热区域最热点温度和温升变化可分为上升、下降、小幅振荡及稳定等四个阶段.在浸泡处理后,试品发热区域最热点温度和温升同未经处理、干燥两种状态下的数据相比,数值绝对值增加明显.浸泡处理后的泄漏电流变化同最热点温度变化过程基本一致,但上升、下降、小幅振荡过程呈现出持续时长短、拐点出现时间早的特点.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	律方成	华北电力大学河北省输变电设备安全防御重点实验室	266	4998	37.0	55.0
2	汪佛池	华北电力大学河北省输变电设备安全防御重点实验室	31	334	10.0	18.0
3	马建桥	华北电力大学河北省输变电设备安全防御重点实验室	6	80	4.0	6.0
4	张文静	华北电力大学河北省输变电设备安全防御重点实验室	9	117	7.0	9.0
5	闫康	华北电力大学河北省输变电设备安全防御重点实验室	5	60	3.0	5.0