复合绝缘子HTV硅橡胶材料老化特性的研究

• 作者: 宋伟 张冠军 张力淼 牛宇干 王俊良 王国利 申文伟
• 来源期刊: 高压电器
• 学科: 工学
• 关键词: 复合绝缘子 电晕放电 老化 憎水性 泄漏电流 SEM分析 FTIR分
• 年，卷（期）: 2013,（2）
• 所属期刊栏目: 研究与分析
• 页码范围: 1-7
• 页数: 7页
• 分类号: TM85
• 语种: 中文

摘要

针对在役复合绝缘子的老化问题,笔者分别对实验室电晕老化和现场自然老化的HTV硅橡胶材料的憎水性、泄漏电流、表面微观形貌以及化学成分等特性进行了对比研究.结果表明,电晕老化与现场老化造成材料特性变化的规律呈现一致性:电晕老化造成材料憎水性下降,且提高电晕老化强度(电压和时间)则导致憎水性恢复变慢,甚至不能完全恢复；现场老化材料的憎水性随年限不断下降,由HC1级(2年)降至HC5级(15年).老化还造成样品的表面电阻率下降,引起表面泄漏电流增加；老化造成硅橡胶材料降解,表面缺陷增加,孔洞增加并加深,甚至产生裂纹,同时生成强极性基团等,从而引起硅橡胶机械及绝缘性能不断下降.