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摘要:
瞬态电压抑制器是用于保护高频电路电压瞬变和浪涌防护的半导体器件,由低击穿电压的雪崩二极管和低电容二极管组成。低电容二极管需要在高掺杂的P型衬底上生长近似本征的超高电阻率的N型外延层。该工艺面临的难点在于如何减少P型自掺杂并稳定控制外延层的电阻率。文章利用扩展电阻测试方法重点研究了8英寸化学气相外延减压工艺中工艺参数对外延层质量的影响和对图形畸变的影响。
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关键词云
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文献信息
篇名 瞬态电压抑制器的减压外延工艺研究
来源期刊 电子技术 学科
关键词 瞬态电压抑制器 自掺杂 减压外延工艺 SRP 过渡区
年,卷(期) 2013,(12) 所属期刊栏目 电子元件
研究方向 页码范围 84-86
页数 3页 分类号
字数 2258字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1000-0755.2013.12.028
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作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 王海红 6 6 2.0 2.0
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研究主题发展历程
节点文献
瞬态电压抑制器
自掺杂
减压外延工艺
SRP
过渡区
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子技术
月刊
1000-0755
31-1323/TN
大16开
上海市长宁区泉口路274号
4-141
1963
chi
出版文献量(篇)
5480
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19
总被引数(次)
22245
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