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摘要:
对高可靠、长寿命电子产品的基于加速退化试验(ADT)的寿命与可靠性评估技术及其应用进行了研究.用漂移布朗运动拟合其退化过程,考虑退化的可加速性,综合加速模型建立了带加速的漂移布朗运动模型,根据漂移布朗运动首达时服从逆高斯分布的特点建立了可靠性评估模型,用极大似然估计与最小二乘法给出了不等采样周期的模型参数估计方法.某GaAs微波组件的算例计算结果验证了方法的有效性.
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文献信息
篇名 基于加速退化试验的寿命与可靠性评估技术应用研究
来源期刊 上海航天 学科 工学
关键词 可靠性评估 寿命 加速退化试验 布朗运动 极大似然估计 最小二乘法 模型参数
年,卷(期) 2013,(3) 所属期刊栏目 研究简报
研究方向 页码范围 65-68
页数 4页 分类号 TB114.3
字数 2267字 语种 中文
DOI
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 万夕干 中国人民解放军驻上海航天电子技术研究所军事代表室 5 11 2.0 3.0
2 龚晶晶 5 10 2.0 3.0
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上海航天
双月刊
1006-1630
31-1481/V
上海元江路3888号南楼
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