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Development of the Atomic Force Microscopy Research Technique for the Nanostructures on the Vertical Edge of Thin Insulating Film
Development of the Atomic Force Microscopy Research Technique for the Nanostructures on the Vertical Edge of Thin Insulating Film
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摘要：
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The use of in-situ cosmogenic 21Ne in studies on long-term landscape development
Cosmogenic nuclides
21Ne
Long timescale
Landscape evolution
基于Solid Edge采用Visual Basic开发塑料模标准件库
模具标准件库
Solid
Edge
二次开发
内容分析
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文献信息
| 篇名 | Development of the Atomic Force Microscopy Research Technique for the Nanostructures on the Vertical Edge of Thin Insulating Film | ||
| 来源期刊 | 物理科学与应用：英文版 | 学科 | 工学 |
| 关键词 | 原子力显微镜 垂直方向 绝缘薄膜 纳米结构 技术 AFM探针 MIM结构 存储单元 | ||
| 年，卷（期） | 2013,（1） | 所属期刊栏目 | |
| 研究方向 | 页码范围 | 18-26 | |
| 页数 | 9页 | 分类号 | TM215.3 |
| 字数 | 语种 | ||
| DOI | |||
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研究主题发展历程
节点文献
原子力显微镜
垂直方向
绝缘薄膜
纳米结构
技术
AFM探针
MIM结构
存储单元
研究起点
研究来源
研究分支
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引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
物理科学与应用：英文版
主办单位：
美国大卫出版公司
出版周期：
双月刊
ISSN：
2159-5348
CN：
开本：
出版地：
武汉洪山区卓刀泉北路金桥花园C座4楼
邮发代号：
创刊时间：
语种：
出版文献量（篇）
425
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