一起10kV母线局放缺陷处理分析

• 作者: 朱叶鑫
• 来源期刊: 电气开关
• 学科: 工学
• 关键词: 局放 气隙 缺陷 半导体
• 年，卷（期）: 2013,（5）
• 所属期刊栏目: 应用与实践
• 页码范围: 95-96,101
• 页数: 3页
• 分类号: TM85
• 字数: 2169字
• 语种: 中文

摘要

基于对一起在高压试验中出现10kV母线局部放电缺陷的分析及处理,探讨母排对绝缘套管内金属隔板局放的形成原因,并找出此类局放的比较简便的处理方法.为同类缺陷提供日常维护、试验及检修的相关经验.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	朱叶鑫		3	0	0.0	0.0