脉冲雷达数字闭环BIT测试的方法研究

• 作者: 姜来春
• 来源期刊: 雷达科学与技术
• 学科: 工学
• 关键词: 脉冲雷达 闭环BIT 性能 测试方法
• 年，卷（期）: 2013,（3）
• 页码范围: 316-319
• 页数: 4页
• 分类号: TN957|TN958
• 字数: 2835字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-2337.2013.03.018

摘要

雷达机内测试(BIT)技术是改善雷达测试性、维修性和故障诊断能力的重要途径,其重要性已经引起了雷达系统设计者和用户的高度重视.在脉冲雷达系统中,通常BIT测试方法不能对脉冲雷达的工作性能作出准确的测试.利用真实目标回波进行在线(BIT)性能测试的方法,扩展了BIT测试范围,对真实雷达回波信号进行测试,判断雷达当前的性能状态.根据对雷达系统的分析和测试需求,提出一种数字闭环BIT方法,把系统原有的BIT故障检测功能延伸到系统性能测试.给出了系统的设计方法和测试流程,测试系统结构简单,易于实现.