Levenberg -M arquardt高斯拟合法在NaI（Tl）γ谱分析中的应用

• 作者: 余倩 李跃忠 杨志辉 瞿诗涛
• 来源期刊: 核电子学与探测技术
• 学科: 工学
• 关键词: Levenberg-Marquardt 高斯拟合法 特征峰
• 年，卷（期）: 2013,（10）
• 页码范围: 1271-1273,1277
• 页数: 4页
• 分类号: TL817+.2
• 字数: 1600字
• 语种: 中文

摘要

为提高γ谱法测定核素活度的准确性，采用高斯函数对除本底后的峰区进行峰形拟合，并根据Levenberg-Marquardt法对拟合方程进行求解得出峰形参数。该方法是以预处理所得峰高、峰位和峰宽为初值，并自适应计算步长进行迭代直至迭代完毕。根据计算仿真结果分析，该方法能够将单能峰拟合到最佳状态，且能将重叠峰分离成多干单峰并拟合。实验表明，该方法可快速准确地计算特征峰峰面积，所得核素特征峰面积与HPGe谱仪所测峰面积相对误差小于8％。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杨志辉	东华理工大学机械与电子工程学院	46	212	8.0	12.0
2	李跃忠	东华理工大学机械与电子工程学院	43	355	12.0	17.0
3	瞿诗涛	东华理工大学机械与电子工程学院	2	3	1.0	1.0
4	余倩	东华理工大学机械与电子工程学院	6	10	2.0	3.0