探测微小空间碎片的MOS电容传感器设计研究

• 作者: 何正文 向宏文 吴中祥 张明磊 王金延
• 来源期刊: 航天器工程
• 关键词: 微小空间碎片 MOS电容 撞击
• 年，卷（期）: 2013,（1）
• 所属期刊栏目: 研究与设计
• 页码范围: 87-92
• 页数: 6页
• 分类号: V447
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1673-8748.2013.01.017

摘要

获得在轨微小碎片环境数据,是建立、检验和完善微小碎片环境模型不可缺少的手段.国内空间碎片研究工作的深入开展,须要研制适合搭载到航天器上的微小碎片探测器,以完成轨道空间的微小碎片的质量、尺寸、速度及飞行方向等参数的测量.微小碎片撞击到金属-氧化物-半导体(MOS)电容传感器,会导致传感器放电和充电,通过检测充电过程的电脉冲信号,记录微小空间碎片撞击事件,从而获得微小空间碎片通量.文章就探测微小碎片的MOS电容传感器设计及其地面高速粒子撞击模拟试验进行了研究,并验证其探测微小空间碎片的可行性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王金延	北京大学微电子研究所	13	15	2.0	3.0