航空国产新研电子元器件应用瓶颈研究

• 作者: 付桂翠 王香芬 高成 黄姣英
• 来源期刊: 电子元件与材料
• 学科: 工学
• 关键词: 新研电子元器件 国产化 应用验证 可靠性
• 年，卷（期）: 2013,（1）
• 所属期刊栏目: 研究与试制
• 页码范围: 54-58
• 页数: 5页
• 分类号: TN40
• 字数: 5337字
• 语种: 中文

摘要

针对目前国产新研电子元器件在航空型号中研多用少的问题,从立项需求、设计、工艺、检测覆盖率、参数体系、研制进度等方面深入分析了国产新研电子元器件在航空型号中应用的制约因素,研究了航空国产新研电子元器件的应用瓶颈,进而提出航空国产新研电子元器件的应用验证及国产化替代思路,这对促进国产新研电子元器件的自主可控,逐步完善航空型号用国产新研电子元器件应用体系具有指导作用.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	黄姣英	北京航空航天大学可靠性与系统工程学院	41	128	6.0	10.0
2	付桂翠	北京航空航天大学可靠性与系统工程学院	22	405	9.0	20.0
3	高成	北京航空航天大学可靠性与系统工程学院	42	195	8.0	13.0
4	王香芬	北京航空航天大学可靠性与系统工程学院	8	34	2.0	5.0