基于Siwave与ADS的高频仿真

• 作者: 刘肃 王永 闫胜刚
• 来源期刊: 电子器件
• 学科: 工学
• 关键词: DDR2存储器 完整性问题 Siwave ADS 谐振分析 阻抗分析 S参数 IBIS接口
• 年，卷（期）: 2013,（6）
• 所属期刊栏目: 电子电路设计分析及应用
• 页码范围: 894-898
• 页数: 5页
• 分类号: TN711
• 字数: 2912字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1005-9490.2013.06.032

摘要

在DDR2(Double Data Rate 2)存储器的供电网络和信号传输网络设计中,由于存储器的工作频率很高,所以不可避免的会遇到高频完整性问题.借助Siwave软件对相关电源网络,进行谐振分析和阻抗分析;借助ADS(Advanced Design System)软件对信号网络,进行S参数和IBIS(Input/Output Buffer Information Specification)接口分析.在频率高于100 MHz时,电源阻抗大于2Ω,信号噪声也超过300 mV.通过添加去耦电容、改动走线等方法,能够减小阻抗,抑制信号噪声,把电源和信号噪声控制在5％以内.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘肃	兰州大学微电子所	68	261	9.0	11.0
2	闫胜刚	兰州大学微电子所	1	5	1.0	1.0
3	王永	兰州大学微电子所	1	5	1.0	1.0