一种W波段器件插损测试的方案分析

• 作者: 王国庆
• 来源期刊: 电子质量
• 学科: 工学
• 关键词: 传输测量 反射测量 插入损耗 方向性 驻波比
• 年，卷（期）: 2013,（5）
• 所属期刊栏目: 理论与研究
• 页码范围: 5-7
• 页数: 3页
• 分类号: TN80
• 字数: 2082字
• 语种: 中文

摘要

W波段器件插损的测试通常采用传输测量方法,该文提出了一种利用反射测量方法测试器件插损的方案,并对这一方案进行了一定的分析.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王国庆	中国电子科技集团公司第四十一研究所	6	3	1.0	1.0