基于Elman神经网络的故障诊断器研究

• 作者: 李伟
• 来源期刊: 电子质量
• 关键词: Elman神经网络 故障诊断器 电路测试
• 年，卷（期）: 2013,（5）
• 所属期刊栏目: 实验室特写
• 页码范围: 66-69,74
• 页数: 5页
• 分类号: TN711.1
• 语种: 中文

摘要

针对BP神经网络易存在局部最小,收敛速度较慢的缺点,研究设计了一种基于Elman神经网络的故障诊断器,建立了Elman神经网络及基于该网络的故障诊断器结构模型；利用某实际电路测试数据,训练并检测该故障诊断器的效能,试验结果表明该故障诊断器有较高的准确性和可靠性,具有工程使用价值.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李伟		25	93	6.0	8.0