高性能ADC使ATE系统准确度达到全新水平

• 作者: Atsushi Kawamoto Heemin Yang Jesper Steensgaard
• 来源期刊: 中国电子商情·基础电子
• 年，卷（期）: 2013,（11）
• 所属期刊栏目: 制造与测试
• 页码范围: 65-67
• 页数: 3页
• 字数: 2864字
• 语种: 中文

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	Atsushi Kawamoto		3	0	0.0	0.0
2	Jesper Steensgaard		2	0	0.0	0.0
3	Heemin Yang	凌力尔特公司设计部	3	0	0.0	0.0