基于Halcon的太阳能硅片缺陷检测

• 作者: 方宁 易铭 李敏 李秀忠 黄远民
• 来源期刊: 机械工程与技术
• 学科: 工学
• 关键词: 太阳能硅片 Halcon10.1 孔洞 脏污 断栅
• 年，卷（期）: jxgcyjs_2013,（4）
• 页码范围: 118-122
• 页数: 5页
• 分类号: TP39

摘要

随着太阳硅片朝着高性能方向发展,对太阳能硅片表面质量检测提出了更高的要求。基于机器视觉软件Halcon10.1可对太阳能硅片缺陷进行可靠的快速检测。本文利用德国MVTec公司的视觉软件Halcon10.1,实现对太阳能硅片隐裂、孔洞、脏污、断栅等缺陷快速地检测出来。实验表明,利用该技术能够提高对太阳能硅片崩边、隐裂、断栅等缺陷检测效率。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李秀忠	佛山职业技术学院机电工程系	32	190	8.0	12.0
2	黄远民	佛山职业技术学院机电工程系	16	9	2.0	2.0
3	方宁	佛山职业技术学院机电工程系	13	15	2.0	3.0
4	易铭	佛山职业技术学院机电工程系	24	24	3.0	3.0
5	李敏	佛山职业技术学院机电工程系	6	6	1.0	2.0