偶联剂对PI/SiO2杂化薄膜微观结构的影响

• 作者: 张明艳 牛颖
• 来源期刊: 塑料
• 学科: 工学
• 关键词: 聚酰亚胺 二氧化硅 杂化 偶联剂 微观结构
• 年，卷（期）: 2013,（1）
• 所属期刊栏目: 改性与合金特辑
• 页码范围: 35-37
• 页数: 3页
• 分类号: TQ323.7
• 字数: 2292字
• 语种: 中文

摘要

采用溶胶-凝胶路线制备了偶联剂分别为3-氨丙基三乙氧基硅烷(APrTEOS)、3-缩水甘油丙基醚三甲氧基硅烷(GPTMOS)、乙烯基三乙氧基硅烷(TEVS)的3种PI/SiO2杂化薄膜,并对其微观结构进行了研究.研究结果表明:在这3种偶联剂中,采用APrTEOS为偶联剂,偶联效果最好.其次为GPTMOS,当采用TEVS为偶联剂时,几乎没有偶联效果.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张明艳	哈尔滨理工大学材料科学与工程学院	65	507	13.0	18.0
2	牛颖	大庆医学高等专科学校化学教研室	13	29	4.0	4.0