较低稀释比熔片制样X射线荧光光谱法测定磷矿石中12种主次痕量组分

• 作者: 屈文俊 王祎亚 詹秀春 许俊玉
• 来源期刊: 岩矿测试
• 学科: 化学
• 关键词: 磷矿石 主次量组分 稀释比 熔片制样 X射线荧光光谱法
• 年，卷（期）: 2013,（1）
• 所属期刊栏目: 岩石矿物分析
• 页码范围: 58-63
• 页数: 6页
• 分类号: P578.92|O657.31
• 字数: 4416字
• 语种: 中文

摘要

当前应用X射线荧光光谱熔片制样技术分析测定较低含量、低荧光产额氟组分时,准确度较低,精密度较差、检出限较高.本文运用5∶1较低稀释比熔样制片技术,采用波长色散X射线荧光光谱法测定磷矿石中11个主次量组分(F、Na2O、MgO、Al2O3、SiO2、P2O5 K2O、CaO、TiO2、MnO、TFe2O3)和1个痕量组分(SrO).采用磷矿石、岩石国家一级标准物质、磷矿石管理样品和人工配制标准样品校准,经验系数法进行基体校正,结果表明12个组分分析方法的精密度和准确度较好,检出限较低,未知样品的分析结果比较满意；氟的精密度、准确度和检出限均好于文献中10∶1熔样稀释比得出的结果.该方法解决了压片制样测定氟组分,熔片制样测定其他主次量组分的技术问题,同时也降低了熔片制样技术测定氟的检出限.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	詹秀春		65	635	14.0	21.0
2	屈文俊		147	5472	43.0	67.0
3	许俊玉		12	143	7.0	11.0
4	王祎亚		18	121	8.0	10.0