激光探测过程中CCD的串音饱和现象分析

• 作者: 刘国栋 孙静 张蓉竹 杜立峰
• 来源期刊: 光学技术
• 学科: 工学
• 关键词: CCD系统 串音饱和 转移效率 干扰
• 年，卷（期）: 2013,（6）
• 所属期刊栏目: 成像系统
• 页码范围: 535-539
• 分类号: TN211
• 语种: 中文

摘要

为了验证激光辐照CCD时产生的串音饱和现象,从理论上给出了单束激光辐照下CCD发生串音饱和时的物理模型,并在此基础上给出了两光束入射情况下CCD发生串音饱和时的物理模型.通过定量计算得到了激光入射能量密度与CCD饱和像素数量的关系曲线和具体数据,并通过实验进行了验证.理论和实验结果表明,入射激光功率密度与CCD饱和区域面积之间呈非线性关系.当两束光同时进入CCD时,其中一束光的功率的增加会对另一束光的探测起到明显的干扰作用.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	孙静	四川大学电子信息学院	32	92	6.0	8.0
2	张蓉竹	四川大学电子信息学院	107	573	10.0	20.0
3	刘国栋	中国工程物理研究院流体物理研究所	17	74	5.0	8.0
4	杜立峰	四川大学电子信息学院	7	14	3.0	3.0