基于FPGA嵌入式的PROM接口实现

• 作者: 万旻 包斌 张京晶 程甘霖
• 来源期刊: 电子测量技术
• 学科: 工学
• 关键词: PROM FPGA 嵌入式 高可靠性
• 年，卷（期）: 2013,（1）
• 所属期刊栏目: 嵌入式技术
• 页码范围: 75-78,87
• 页数: 5页
• 分类号: TP337
• 字数: 1825字
• 语种: 中文

摘要

随着航天技术的发展,嵌入式系统在航天上得到了越来越广泛的应用.PROM作为航天相机电子学中存储数据的主要器件之一,其功能测试还依赖于使用硬件语言编写测试端口模块来完成,这种传统的方法不仅开发效率低,而且很难保证测试的可靠性.提出一种以嵌入式开发的方式实现PROM测试接口的方法,通过普通IO接口来模拟PROM接口时序,这种方法不仅提高了测试效率,而且提高了测试的可靠性、可配置性以及可移植性,大大降低了系统的研发成本.这种高效、低廉的测试实现方法,在航天电子学中有广泛的应用前景,同时,也适合于数据采集、工业自动化等应用.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张京晶		3	8	1.0	2.0
2	万旻		12	56	6.0	7.0
3	程甘霖		4	14	2.0	3.0
4	包斌		9	92	4.0	9.0