基于CMOS探测器的环焊缝检测系统设计

• 作者: 马文进
• 来源期刊: 无损检测
• 学科: 工学
• 关键词: 环焊缝 扫描检测 CMOS探测器
• 年，卷（期）: 2013,（1）
• 所属期刊栏目: 实践经验
• 页码范围: 69-70,73
• 页数: 3页
• 分类号: TG115.28|TG441.7
• 语种: 中文

摘要

针对常规X射线照相检测技术检测环焊缝时工作效率低的问题,结合数字成像技术的发展,利用空间分辨率较高的CMOS成像面板,拆除成像板中的扫描驱动机构,重新设计检测系统,对环焊缝进行数字化扫描检测,从而快速、高质量地完成环焊缝的射线检测工作.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	马文进		6	3	1.0	1.0