结构变形对相控阵天线电性能的影响分析

• 作者: 康明魁 普涛 王从思 王伟
• 来源期刊: 系统工程与电子技术
• 学科: 工学
• 关键词: 有源相控阵天线 变形误差 电性能 耦合分析
• 年，卷（期）: 2013,（8）
• 所属期刊栏目: 传感器与信号处理
• 页码范围: 1644-1649
• 页数: 6页
• 分类号: TN821.8
• 字数: 2711字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-506X.2013.08.10

摘要

分析阵面变形误差对有源相控阵天线(active phased array antenna,APAA)电性能的影响,对研究和发展高性能APAA非常重要.将阵面随机误差和阵面变形作为附加的相位因子引入到天线方向图函数中,建立了平面矩形APAA的阵面变形误差与电性能之间的结构-电磁耦合模型,并仿真分析了阵面存在变形误差时的天线远场方向图.通过所提方法与结论,工程设计人员可对加工公差提出更合理的要求.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王从思	西安电子科技大学电子装备结构设计教育部重点实验室	31	499	14.0	21.0
2	王伟	西安电子科技大学电子装备结构设计教育部重点实验室	83	505	12.0	18.0
3	康明魁	西安电子科技大学电子装备结构设计教育部重点实验室	4	73	4.0	4.0
4	普涛	西安电子科技大学电子装备结构设计教育部重点实验室	2	57	2.0	2.0