SiO2载纳米银抗菌粉体的制备及性能

• 作者: 陈晓丽 魏丽乔
• 来源期刊: 中国粉体技术
• 学科: 工学
• 关键词: 化学还原法 纳米粒子 抗菌性能
• 年，卷（期）: 2013,（6）
• 所属期刊栏目: 粉体纳米技术
• 页码范围: 54-57
• 页数: 4页
• 分类号: TQ13
• 字数: 1915字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1008-5548.2013.06.013

摘要

利用化学还原法制备SiO2载纳米银复合抗菌粉体(Ag-SiO2),研究制备过程中Ag+浓度对Ag-SiO2抗菌粉体的性能及色泽的影响;采用扫描电镜、能谱分析、X射线光谱分析以及透射电镜对Ag-SiO2抗菌粉体的结构进行分析,并利用抑菌环法和最小抑菌浓度法测试其抗菌性能.结果表明,银粒子主要以纳米还原态存在,平均粒径为30 nm左右;Ag+浓度越大,抗菌性能越好,但是同时抗菌剂色泽越深;银的最小抑菌浓度(质量浓度)为94 mg/L.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	魏丽乔	太原理工大学新材料界面科学与工程教育部和山西省重点实验室	55	493	13.0	19.0
5	陈晓丽	太原理工大学新材料界面科学与工程教育部和山西省重点实验室	3	7	1.0	2.0