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基于测试系统的FPGA测试方法研究
基于测试系统的FPGA测试方法研究
作者:
万清
章慧彬
解维坤
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
FPGA
测试
配置
摘要:
FPGA已经成为当今数字化系统硬件设计的核心,全球90%以上的嵌入式系统设计工程师正在使用FPGA进行着各种各样的设计.FPGA的快速发展,为测试厂商带来了新的机遇和挑战,针对FPGA的各种创新测试技术和解决方案不断问世.文章介绍FPGA配置方法,着重介绍了利用测试系统(ATE)直接配置和基于CPLD+FLASH的FPGA配置方法,介绍了FPGA配置模式选择和配置代码生成方法,并以Virtex-II FPGA为例,详细讲述了FPGA配置与测试过程.
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文献信息
篇名
基于测试系统的FPGA测试方法研究
来源期刊
电子与封装
学科
工学
关键词
FPGA
测试
配置
年,卷(期)
2013,(5)
所属期刊栏目
研究方向
页码范围
6-8
页数
分类号
TN407
字数
1410字
语种
中文
DOI
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
发文数
被引次数
H指数
G指数
1
章慧彬
12
31
4.0
5.0
2
万清
7
22
3.0
4.0
3
解维坤
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引证文献(0)
二级引证文献(0)
2017(1)
引证文献(1)
二级引证文献(0)
2019(1)
引证文献(1)
二级引证文献(0)
研究主题发展历程
节点文献
FPGA
测试
配置
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子与封装
主办单位:
中国电子科技集团公司第五十八研究所
出版周期:
月刊
ISSN:
1681-1070
CN:
32-1709/TN
开本:
大16开
出版地:
江苏无锡市惠河路5号(208信箱)
邮发代号:
创刊时间:
2002
语种:
chi
出版文献量(篇)
3006
总下载数(次)
24
总被引数(次)
9543
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