真空环境下电容薄膜规测量偏差的原因分析

• 作者: 常冬林 李培印 杜春林 许忠旭
• 来源期刊: 真空
• 学科: 工学
• 关键词: 薄膜规 本底偏移量 真空 偏差
• 年，卷（期）: 2013,（4）
• 所属期刊栏目: 测量与控制
• 页码范围: 58-60
• 页数: 3页
• 分类号: TB771
• 语种: 中文

摘要

在某大型航天器的调试试验中,需使用电容薄膜规(以下简称薄膜规)进行密封舱内真空度测量,结果发现薄膜规测量数据出现了较大的偏差.本文即对这一问题进行原因分析,提出在真空环境下,薄膜本底偏移量是产生偏差的最重要原因,并有针对性地采取解决措施.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	许忠旭	北京卫星环境工程研究所可靠性与环境工程技术重点实验室	22	63	5.0	6.0
2	杜春林	北京卫星环境工程研究所可靠性与环境工程技术重点实验室	13	14	2.0	3.0
3	常冬林	北京卫星环境工程研究所可靠性与环境工程技术重点实验室	4	11	2.0	3.0
4	李培印	北京卫星环境工程研究所可靠性与环境工程技术重点实验室	9	26	3.0	5.0