行波管阴极的寿命试验

• 作者: 宋田英 贺兆昌 邓清东
• 来源期刊: 真空电子技术
• 学科: 工学
• 关键词: 行波管 阴极寿命 短管结构 常规寿命试验
• 年，卷（期）: 2013,（3）
• 所属期刊栏目: 工艺与应用
• 页码范围: 54-56
• 页数: 3页
• 分类号: TN124
• 字数: 2919字
• 语种: 中文

摘要

微波器件的寿命往往取决于阴极的寿命,做好阴极寿命的测试是非常必要的.本文选择了常规寿命试验的方式,采用了阳控枪和水冷收集极的短管结构,在阴极工作温度1020℃、脉冲工作比10％、初始发射电流6A/cm2电流密度的状态下,进行行波管阴极寿命试验.截止目前,该试验还在进行中,累积寿命时间达8200h.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	贺兆昌		20	84	6.0	9.0
2	宋田英		7	1	1.0	1.0
3	邓清东		7	0	0.0	0.0