基于C8051F310单片机的短路测试方法

• 作者: 庄少毅 翁沛根 金小莉
• 来源期刊: 现代显示
• 学科: 工学
• 关键词: 探测 短路 I/O端口 C8051F310
• 年，卷（期）: 2013,（4）
• 所属期刊栏目: 技术交流
• 页码范围: 36-39
• 页数: 4页
• 分类号: TN141
• 字数: 2336字
• 语种: 中文

摘要

文章介绍了一种利用C8051F310单片机来探测测试板上是否存在短路的方法,并且测试完成后在测试工具的液晶显示模块上把短路的探测结果显示出来.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	翁沛根		2	0	0.0	0.0
2	庄少毅		4	0	0.0	0.0
3	金小莉		3	0	0.0	0.0