对称加密算法AES和DES的差分错误分析

• 作者: 俞军 孙维东 沈磊
• 来源期刊: 复旦学报（自然科学版）
• 学科: 工学
• 关键词: 高级加密标准 数据加密标准 差分错误分析 智能卡
• 年，卷（期）: 2013,（3）
• 所属期刊栏目: 微电子学与固体电子学
• 页码范围: 297-302
• 分类号: TP309.7
• 语种: 中文

摘要

分析对称加密算法AES和DES对差分错误分析的安全性.描述了一种针对AES加密算法的差分错误分析方法,通过软件模拟成功恢复根密钥.实验结果表明,只需20次左右的错误注入就能实现AES差分错误分析.提出一种新的DES差分错误分析方法,该方法与AES差分错误分析在原理上类似,软件模拟结果表明破解DES需要的错误注入次数更多.因此无任何防护手段的AES和DES加密算法很容易受到差分错误分析的攻击.最后提出引入错误侦测机制能有效抵御此类攻击.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	俞军	复旦大学微电子研究院专用集成电路与系统国家重点实验室	33	352	10.0	18.0
2	沈磊	复旦大学微电子研究院专用集成电路与系统国家重点实验室	20	157	6.0	11.0
3	孙维东	复旦大学微电子研究院专用集成电路与系统国家重点实验室	1	20	1.0	1.0