基于几种超声压电晶片阵列的金属板缺陷成像

• 作者: 沈希忠 袁魁
• 来源期刊: 无损检测
• 学科: 工学
• 关键词: Lamb波检测 缺陷识别 超声成像 阵列技术 虚像
• 年，卷（期）: 2013,（3）
• 所属期刊栏目: 科研成果与学术交流
• 页码范围: 1-4
• 页数: 4页
• 分类号: TG115.28|TB553
• 语种: 中文

摘要

结合椭圆定位方法,分别采用了线型、十字型和时钟型超声压电晶片阵列对金属薄板中缺陷进行成像识别.根据Lamb波在薄板中的传播分析,选取激励信号及其参数,构建超声信号检测模型.依据椭圆轨迹原理进行成像,判断薄板中有无缺陷存在.通过压电陶瓷晶片加载脉冲激励信号,分别对三种情况进行数据处理并成像.结果证明十字型和时钟型阵列能有效地对缺陷成像,并避免了成像过程中的虚像.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	沈希忠		44	148	7.0	10.0
2	袁魁		1	0	0.0	0.0