CuW75合金电腐蚀性能的研究

• 作者: 肖鹏 赵伟鹏
• 来源期刊: 西安理工大学学报
• 学科: 工学
• 关键词: CuW75合金 真空电击穿 耐电压强度 击穿形貌 内电场
• 年，卷（期）: 2013,（1）
• 页码范围: 66-69
• 页数: 4页
• 分类号: TB331|TG14
• 字数: 3444字
• 语种: 中文

摘要

以CuW75合金为研究对象,对不同粒径W粉制备的CuW75合金进行真空电击穿实验,记录电击穿相关数据,并采用扫描电镜对试样的组织和击穿形貌进行观察分析.结果表明,与粗晶CuW75合金相比,细晶CuW75合金经电击穿测试后,电弧烧蚀程度更轻,耐电压强度增加了1.27×107 V/m、截流值降低了0.33 A,且燃弧时间也延长了0.51 ms,表现了更明显的内电场影响效果和更优良的抗电腐蚀性能.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	肖鹏	西安理工大学材料科学与工程学院	40	217	9.0	13.0
2	赵伟鹏	西安理工大学材料科学与工程学院	1	1	1.0	1.0