篇名 | The temperature dependence of single-event transients in 90-nm CMOS dual-well and triple-well NMOSFETs | ||
来源期刊 | 中国物理B(英文版) | 学科 | |
关键词 | single event transient temperature dependence dual-well triple-well N+ deep well | ||
年,卷(期) | 2013,(2) | 所属期刊栏目 | |
研究方向 | 页码范围 | 586-590 | |
页数 | 5页 | 分类号 | |
字数 | 语种 | 英文 | |
DOI | 10.1088/1674-1056/22/2/029401 |