基于倒谱分析的RFID标签设备指纹认证方法

• 作者: 严燕 江立伟
• 来源期刊: 测控技术
• 学科: 工学
• 关键词: 身份认证 设备指纹 倒谱分析
• 年，卷（期）: 2013,（12）
• 所属期刊栏目: 数据采集与处理
• 页码范围: 17-19,22
• 页数: 4页
• 分类号: TN918.91
• 字数: 1859字
• 语种: 中文

摘要

近耦合RFID系统得到了广泛应用,其安全问题也得到了越来越多的重视.提出了近耦合RFID标签的一种基于物理特征的倒谱设备指纹认证方法.建模理论分析与基于ISO 14443A标签的实验结果表明:新的倒谱设备指纹消除了标签的数字信息影响,主要由标签硬件的物理性质决定.所提出方法可用于近耦合RFID标签的物理层身份识别与验证.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	严燕	南通大学计算机科学与技术学院	16	53	4.0	7.0
2	江立伟	南通大学电子信息学院	3	3	1.0	1.0