基于TMS320F28335+PCI的光栅纳米测量卡的设计

• 作者: 徐从裕 郭言文
• 来源期刊: 电子测量技术
• 学科: 工学
• 关键词: 光栅纳米测量 TMS320F28335 PCI
• 年，卷（期）: 2013,（6）
• 所属期刊栏目: 光电测试技术
• 页码范围: 100-104
• 页数: 5页
• 分类号: TH711
• 字数: 3078字
• 语种: 中文

摘要

光栅纳米测量卡精度高,动态测量范围广,广泛应用于现代几何量计量设备中.目前国内市场上的光栅测量卡主要来自于国外,价格昂贵,自主产品比较少.为了打破这一现状,设计了一种基于DSP+ PCI的光栅纳米测量卡,通过预放大电路对光栅信号进行处理,采用TMS320F28335对处理的光栅信号进行细分处理,基于PCI接口芯片CH365与计算机相连,实现高精度、快速光栅纳米在线测量.实验表明,运用光栅纳米测量卡测量的位移达到了纳米级.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	徐从裕	合肥工业大学仪器科学与光电工程学院	29	88	6.0	8.0
2	郭言文	合肥工业大学仪器科学与光电工程学院	1	1	1.0	1.0