基于函数切片的插装优化在软件测试中的应用

• 作者: 刘永恒 胡璇
• 来源期刊: 电子产品可靠性与环境试验
• 关键词: 源代码覆盖 嵌入式软件 函数切片 逻辑覆盖测试
• 年，卷（期）: 2013,（z1）
• 所属期刊栏目: 软件可靠性与评测技术
• 页码范围: 155-159
• 页数: 5页
• 分类号: TP311.5
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-5468.2013.S1.033

摘要

首先对插装技术的基本理论和方法进行了介绍,指出了传统的插装方法应用在嵌入式软件逻辑覆盖测试中所面临的问题;然后针对插装后代码的膨胀情况,提出一种基于函数切片的插装优化方法.在使用同样测试工具的情况下,优化了插装程序的执行效率;最后通过实验验证了该方法的有效性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘永恒		6	9	2.0	2.0
2	胡璇		3	7	1.0	2.0