高重频脉冲激光对CM OS相机饱和干扰效果研究

• 作者: 张乐 张雷雷 赵威 邵铭
• 来源期刊: 激光杂志
• 学科: 工学
• 关键词: 激光干扰 CMOS相机 饱和效应 光电对抗
• 年，卷（期）: 2013,（6）
• 所属期刊栏目: 实验装置与技术
• 页码范围: 16-17
• 页数: 2页
• 分类号: TN215
• 字数: 1898字
• 语种: 中文

摘要

提激光干扰是对抗成像观瞄设备和精确制导武器，保护己方目标的重要方式。为了评估激光对CMOS图像传感器的干扰效果，利用1．06μm高重频激光开展了对CMOS相机的饱和干扰实验研究，实验中计算了CMOS图像饱和激光功率密度阈值，并分析了CMOS相机干扰有效面积、饱和干扰面积、干扰前后图像相关度与激光入射功率之间的关系。实验结果表明，随着激光功率的增加，CMOS相机饱和像元数、干扰有效面积增加，图像质量下降，干扰效果明显提高。