背减薄工艺对中波320×256碲镉汞红外焦平面探测器组件可靠性的影响

• 作者: 刘湘云 朱颖峰 田立萍 郭建华
• 来源期刊: 红外技术
• 学科: 工学
• 关键词: 背减薄 焦平面探测器 工作寿命
• 年，卷（期）: 2013,（10）
• 所属期刊栏目: 材料与器件
• 页码范围: 629-631
• 页数: 3页
• 分类号: TN215
• 字数: 2839字
• 语种: 中文

摘要

通过对A版（初减薄）和B版（终减薄）中波320×256碲镉汞红外焦平面探测器组件进行可靠性试验，并对其试验后的光电特性进行比较，最终给出B版焦平面探测器组件工作寿命的初步评价。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	田立萍		4	11	3.0	3.0
2	朱颖峰		22	75	5.0	6.0
3	刘湘云		8	18	3.0	3.0
4	郭建华		5	18	3.0	4.0