一种可配置的老化预测传感器设计

• 作者: 徐辉 李志杰 李扬 梁华国 汪静 黄正峰
• 来源期刊: 新能源进展
• 学科: 工学
• 关键词: 失效预测 老化 可配置 整合 反馈电路
• 年，卷（期）: 2013,（1）
• 所属期刊栏目: 论文
• 页码范围: 205-211
• 页数: 7页
• 分类号: TP391.76
• 字数: 5566字
• 语种: 中文

摘要

随着工艺尺寸的缩减,老化导致的电路不稳定现象越来越严重.由于NBTI效应造成的老化是渐进的,因此老化是可预测的.由此提出了一种具有可配置延迟单元的老化预测电路,并将其中的稳定性校验器和锁存器的功能进行了整合.在老化的不同时期,针对老化程度,动态调节延迟单元的延迟大小,得到不同的保护带宽度,从而提高老化预测的准确率.并通过反馈电路达到对稳定性校验器的输出进行锁存的目的.与经典结构相比,电路在面积上平均节省20.6％左右,在功耗方面减少36％左右.Spice模拟器的仿真结果证实了电路的优越性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	梁华国	合肥工业大学电子科学与应用物理学院	192	1611	19.0	30.0
2	黄正峰	合肥工业大学电子科学与应用物理学院	101	590	14.0	19.0
3	徐辉	合肥工业大学计算机与信息学院	10	59	4.0	7.0
4	汪静	合肥工业大学计算机与信息学院	15	45	5.0	6.0
5	李扬	合肥工业大学计算机与信息学院	14	108	7.0	10.0
6	李志杰	合肥工业大学计算机与信息学院	11	49	5.0	6.0