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摘要:
FPGA已经被广泛用于实现大规模的数字电路和系统,随着CMOS工艺发展到深亚微米,芯片的静态功耗已成为关键挑战之一.文章首先对FPGA的结构和静态功耗在FPGA中的分布进行了介绍.接下来提出了晶体管的漏电流模型,并且重点对FPGA中漏电流单元亚阈值漏电流和栅漏电流进行了详细的分析.最后根据FPGA的特点采用双阈值电压晶体管,关键路径上的晶体管采用低阈值电压栅的晶体管,非关键路径上的晶体管采用高阈值电压栅的晶体管,以此来降低芯片的静态功耗.
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文献信息
篇名 FPGA的静态功耗分析与降低技术
来源期刊 电子与封装 学科 工学
关键词 FPGA 亚阈值漏电流 布线开关 双阈值电压
年,卷(期) 2013,(1) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 26-29
页数 分类号 TN402
字数 1622字 语种 中文
DOI
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 曹靓 6 15 3.0 3.0
2 曹正州 6 19 4.0 4.0
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研究主题发展历程
节点文献
FPGA
亚阈值漏电流
布线开关
双阈值电压
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子与封装
月刊
1681-1070
32-1709/TN
大16开
江苏无锡市惠河路5号(208信箱)
2002
chi
出版文献量(篇)
3006
总下载数(次)
24
总被引数(次)
9543
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