VJ Electronix将展出全新的获奖Vertex II X射线检测系统

• 来源期刊: 现代表面贴装资讯
• 学科: 工学
• 关键词: X射线检测系统 VERTEX X射线检测系统 电子生产设备 返修技术 x射线技术 微电子工业 领导者
• 年，卷（期）: 2013,（2）
• 页码范围: 2-2
• 页数: 1页
• 分类号: TN407

摘要

返修技术领导者、先进x射线检测系统全球提供商vJElectronix有限公司将在2013年中国国际电子生产设备暨微电子工业展上展出全新的VertexII下一代x射线技术及高性能sRTMicra返修平台，Kasion展位号1G56。