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摘要:
研究了采用磁控溅射方法制备的CdS薄膜的工艺及光电性质,在200℃、300℃、400℃和500℃下分别进行50 min的退火处理,SEM扫描发现退火处理后的CdS薄膜成膜质量更好.通过SEM测得CdS薄膜厚度为10 μm,计算出CdS薄膜的溅射速率为7.5 μm/h.通过探针I-V测试表明,400℃退火处理下,CdS薄膜的光电导特性最为优异,光电流与暗电流之比可达2 134.8.
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文献信息
篇名 用磁控溅射法制备的CdS薄膜的光电特性
来源期刊 传感技术学报 学科 工学
关键词 CdS膜 磁控溅射 退火 光电特性
年,卷(期) 2013,(2) 所属期刊栏目 物理类传感器
研究方向 页码范围 166-169
页数 4页 分类号 TP212.1
字数 3270字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1004-1699.2013.02.005
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作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 孙萍 16 22 2.0 4.0
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研究主题发展历程
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CdS膜
磁控溅射
退火
光电特性
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传感技术学报
月刊
1004-1699
32-1322/TN
大16开
南京市四牌楼2号东南大学
1988
chi
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