IC长贮存寿命评价方法

• 作者: 尹颖 章慧彬 管光宝
• 来源期刊: 电子与封装
• 学科: 工学
• 关键词: 长贮存寿命 失效模型 失效机理 加速因子
• 年，卷（期）: 2013,（9）
• 页码范围: 40-43
• 页数: 4页
• 分类号: TN306
• 字数: 2619字
• 语种: 中文

摘要

高可靠长寿命产品在军事、航空航天、电子工业、通信等领域应用越来越广泛，如何保障其可靠性与预测其寿命是值得深入研究的重要问题。越来越多的单位，特别是航空航天系统的单位，对其选用的产品提出了具有32年贮存寿命要求的高可靠性指标。长寿命及超长寿命的电子元器件的贮存寿命评价是以加速试验为评价方法的。建立准确的失效机理及模型是评价正确与否的关键。文章通过收集大量高温贮存及常温贮存的实测数据，建立失效模型，推算出应力条件及相应的加速因子。文中实践证明，通过模型仿真出的贮存寿命具有高的可信度。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	管光宝		4	11	2.0	3.0
2	章慧彬		12	31	4.0	5.0
3	尹颖		1	0	0.0	0.0