二单元圆极化微带天线阵列中介质边缘效应仿真实验分析

• 作者: 厉璐慧 张春华 曹振新
• 来源期刊: 微波学报
• 关键词: 微带天线阵列 互耦 介质边缘效应 双同轴馈电 圆极化
• 年，卷（期）: 2013,（3）
• 所属期刊栏目: 学术论文与技术报告
• 页码范围: 31-35
• 语种: 中文

摘要

紧凑型双馈圆极化微带天线阵列在E面和H面存在严重互耦,会导致天线阵列的整体性能显著下降.为此,设计了二单元圆极化微带天线阵列,建立了参数化HFSS模型,对天线单元间距、辐射基片切向方向边缘效应对E面和H面互耦影响进行了仿真和分析,结果表明存在临界单元间距值.小于该值时,H面的互耦比E面的严重,反之H面的互耦会随着间距加大而显著下降；对于E面互耦,辐射基片切向方向的介质边缘存在对应最小E面互耦的最佳尺寸,但对于H面互耦,介质边缘效应并不显著.进一步设计了具有典型参数值的实物样品,测试结果验证了上述情况,并表明:介质边缘效应只能改善E面互耦,但对H面互耦的改善需要采用其它方法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	曹振新	东南大学毫米波国家重点实验室	27	207	9.0	14.0
2	张春华		2	1	1.0	1.0
3	厉璐慧	东南大学毫米波国家重点实验室	2	1	1.0	1.0