一种高可靠消除FFS模式TFT-LCD静电引起残像的方法

• 作者: 吴添德 姚建芳 季春玲 杜玙璠 杨尚松 杨斌 樊卫华 郑赛 陈孝仙
• 来源期刊: 光电子技术
• 学科: 工学
• 关键词: 残像 高可靠性 边缘场开关 液晶显示器
• 年，卷（期）: 2013,（4）
• 所属期刊栏目: 研究与试制
• 页码范围: 270-273
• 页数: 4页
• 分类号: TN873+.93
• 字数: 3448字
• 语种: 中文

摘要

主要研究了FFS模式TFT-LCD(Thin Film Transistor Liquid Crystal Display)于不同条件和环境下影像残留现象,简述了残像产生的原因,探讨了其产生的机理和对策方向,为改善相应的显示残像问题提供一种高可靠性的处理方案.