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摘要:
随着科技的进步,电子设备也向着集成度更高、功率更大、可靠性要求更严格的方向发展。高温引起的电子设备失效作为最常见的失效原因之一,也越来越引起设计者的重视。通过常规的制备样品反复试验的方法耗时耗力,而采用仿真模拟的办法就能很好地解决问题。文章从使用高导热封装材料、添加散热盖和改善封装结构等方面,应用仿真模拟的手段来比较各种优化设计的改善程度,在散热优化方面为今后的BGA设计提供了参考。
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关键词云
关键词热度
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文献信息
篇名 BGA热性能仿真优化分析方法研究
来源期刊 电子与封装 学科 工学
关键词 封装产品 仿真 BGA 散热优化
年,卷(期) 2013,(9) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 10-13
页数 4页 分类号 TN305.94
字数 2167字 语种 中文
DOI
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 马晓波 2 1 1.0 1.0
2 温莉 2 1 1.0 1.0
3 谌世广 1 1 1.0 1.0
4 王希有 1 1 1.0 1.0
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研究主题发展历程
节点文献
封装产品
仿真
BGA
散热优化
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子与封装
月刊
1681-1070
32-1709/TN
大16开
江苏无锡市惠河路5号(208信箱)
2002
chi
出版文献量(篇)
3006
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24
总被引数(次)
9543
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