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摘要:
Photothermal deflection is widely used to study defects in materials. Both high spatial resolution and high sensitivity are required to detect them. In order to improve the theoretical model in the case of uniform heating (one dimensional heat treatment) we have chosen to heat the sample by a halogen lamp. The sample which contains a known surface and subsurface defects is first covered by a thin graphite layer and placed in air. The sample fixed on a vertical holder is able to move in the x and y directions thanks a two stepper motors. The measurement showed excellent agreement between experimental and simulation results.
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篇名 Study of Surface and Subsurface Defects in Materials by Photothermal Deflection Technique: Theory and Experience
来源期刊 现代物理(英文) 学科 医学
关键词 PHOTOTHERMAL DEFLECTION TECHNIQUE Surface DEFECT SUBSURFACE DEFECT Thermal Wave
年,卷(期) 2013,(3) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 380-384
页数 5页 分类号 R73
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现代物理(英文)
月刊
2153-1196
武汉市江夏区汤逊湖北路38号光谷总部空间
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