GD-MS法测定高纯钨锭中多种痕量杂质元素

• 作者: 刘英 张金娥 李宝城 李继东 程紫辉 童坚 臧慕文
• 来源期刊: 矿冶
• 学科: 化学
• 关键词: 高纯钨 辉光放电质谱法 痕量元素分析
• 年，卷（期）: 2013,（z1）
• 所属期刊栏目: 理化检测
• 页码范围: 149-151
• 页数: 3页
• 分类号: O657.63
• 字数: 2200字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1005-7854.2013.z1.036

摘要

采用辉光放电质谱法(GD-MS)同时测定了高纯钨锭中66种痕量杂质元素.主要杂质元素(K,Ba等)的测定值与电感耦合等离子体质谱法(ICP-MS)定量分析结果经F检验和T检验均验证在显著性水平为10％时,两者无显著性差异.试验表明GD-MS法对高纯钨锭的无标准样品的快速分析有较高的准确度.与ICP-MS法相比,GD-MS能直接分析固体样品,并具有分析元素多、测定范围广、检测限低、分析速度快等众多优点,已被公认为是最佳的高纯金属痕量杂质元素分析方法之一.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘英		48	250	9.0	12.0
2	童坚		31	180	8.0	10.0
3	李继东		30	270	11.0	15.0
4	臧慕文		33	259	8.0	15.0
5	张金娥		2	3	1.0	1.0
6	李宝城		2	6	2.0	2.0
7	程紫辉		1	3	1.0	1.0