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AQL、LTPD以及“零缺陷”三种抽样检验的比较
AQL、LTPD以及“零缺陷”三种抽样检验的比较
作者:
凌勇
涂继云
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
计数抽样检验
OC函数
AQL
LTPD
零缺陷
摘要:
抽样检验按照检验值的属性可以划分为计量抽样检验和计数抽样检验,而计数抽样检验又包括一次、二次以及多次抽样方案。文章主要介绍了计数型抽样检验中一次抽样方案的基本概念、抽样原理、表征参数、OC函数、OC曲线以及抽样方案辨别力指标。在此基础上,重点介绍了AQL抽样、LDPT抽样以及“零缺陷”抽样三种抽样检验方法的基本构架和检验流程。通过对三种抽样检验方法的分析对比,零缺陷抽样凭借其抽样方法简便、抽样方案经济、质量理念先进的特点,已经逐渐成为现代企业质量检验管理的潮流所向。
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文献信息
篇名
AQL、LTPD以及“零缺陷”三种抽样检验的比较
来源期刊
电子与封装
学科
工学
关键词
计数抽样检验
OC函数
AQL
LTPD
零缺陷
年,卷(期)
2013,(4)
所属期刊栏目
研究方向
页码范围
41-45
页数
5页
分类号
TN307
字数
3282字
语种
中文
DOI
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
发文数
被引次数
H指数
G指数
1
凌勇
5
8
2.0
2.0
2
涂继云
3
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二级引证文献(2)
研究主题发展历程
节点文献
计数抽样检验
OC函数
AQL
LTPD
零缺陷
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子与封装
主办单位:
中国电子科技集团公司第五十八研究所
出版周期:
月刊
ISSN:
1681-1070
CN:
32-1709/TN
开本:
大16开
出版地:
江苏无锡市惠河路5号(208信箱)
邮发代号:
创刊时间:
2002
语种:
chi
出版文献量(篇)
3006
总下载数(次)
24
总被引数(次)
9543
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