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摘要:
在不同喷铸温度下制备了Zr55Al10Ni5Cu30块体非晶试样,利用电阻率法研究熔体温度对非晶结构弛豫的影响.结果表明,缺陷散射对电阻率的影响高于电子声子散射的影响;低温结构弛豫时,在1300℃时制备的试样保温前后电阻率的差值出现负值;高温结构弛豫后,随着制备非晶时熔体温度的升高,保温前后电阻率的差值逐渐减小.
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非晶
纳米晶
内容分析
关键词云
关键词热度
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文献信息
篇名 不同熔体温度制备的Zr55Al10Ni5Cu30大块非晶结构弛豫
来源期刊 材料热处理学报 学科 工学
关键词 大块非晶 结构弛豫 电阻率 熔体温度
年,卷(期) 2013,(5) 所属期刊栏目 材料研究
研究方向 页码范围 20-24
页数 分类号 TG139.8
字数 语种 中文
DOI
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 祖方遒 合肥工业大学材料科学与工程学院 68 440 11.0 16.0
2 王知鸷 合肥工业大学材料科学与工程学院 10 9 2.0 2.0
4 王丽芳 合肥工业大学材料科学与工程学院 5 39 3.0 5.0
7 张先峰 合肥工业大学材料科学与工程学院 3 27 3.0 3.0
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研究主题发展历程
节点文献
大块非晶
结构弛豫
电阻率
熔体温度
研究起点
研究来源
研究分支
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材料热处理学报
月刊
1009-6264
11-4545/TG
大16
北京市海淀区学清路18号北京电机研究所内
82-591
1980
chi
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